การทดสอบหม้อแปลงไฟฟ้าแบบเปิดวงจร

จำนวนผู้เยี่ยมชมหน้านี้

 การทดสอบแบบเปิดวงจร ( No-Load Test or Open-Circuit Test ) เพื่อให้ทราบค่าการสูญเสียในแกนเหล็ก (Core loss) โดย การเปิดวงจรทางด้านแรงดันไฟฟ้าสูง (high voltage side) และจ่ายแรงดันไฟฟ้าที่พิกัดเข้าที่ด้าน แรงดันไฟฟ้าต่ำ (low voltage side)

รูปที่ 1 แสดงการต่อวงจรทดสอบหม้อแปลงแบบเปิดวงจร

              เมื่อจ่ายแรงดันไฟฟ้าให้กับวงจรตาม รูปที่ 1 จนกระทั่งค่าที่อ่านได้จากโวลต์มิเตอร์เป็นค่าแรงดันไฟฟ้าที่พิกัด  (V_OC)  ค่ากระแสไฟฟ้าที่อ่านได้จากแอมป์มิเตอร์ จะเป็น 1% ถึง 3% ของกระแสไฟฟ้า ที่พิกัด ค่ากระแสไฟฟ้าที่อ่านได้นี้เป็นกระแสไฟฟ้าขณะไม่มีโหลด (I_OC) ซึ่งมีค่าน้อยมากเมื่อเปรียบเทียบกับ กระแสไฟฟ้าที่พิกัด ค่าความสูญเสียในขดลวดทองแดง (I²R) จึงมีค่าน้อย ดังนั้น ในการทดสอบเปิดวงจรนี้ จึงไม่คิดค่าความสูญเสียในขดลวดทองแดง

                ในทางตรงกันข้าม การทดสอบเปิดวงจรนี้ใช้แรงดันไฟฟ้าที่พิกัด ฟลักซ์แม่เหล็กที่เกิดขึ้นในแกนตัวนำแม่เหล็กจึงมีค่ามาก เมื่อเราไม่คิดค่าความสูญเสียในขดลวดทองแดง จึงสรุปได้ว่า ค่าที่อ่านได้จากวัตต์มิเตอร์จากการทดสอบแบบเปิดวงจรจึงเป็นค่าความสูญเสียในแกนเหล็ก (P_OC) นั่นเอง